Một phần số :
SN74ABTH182652APM
nhà chế tạo :
Texas Instruments
Sự miêu tả :
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Tình trạng một phần :
Active
Loại logic :
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Cung câp hiệu điện thê :
4.5V ~ 5.5V
Nhiệt độ hoạt động :
-40°C ~ 85°C
Gói thiết bị nhà cung cấp :
64-LQFP (10x10)